對于任何肖特基二極管，在設(shè)計(jì)時都存在一個取舍。即此設(shè)備要么針對低Vf進(jìn)行優(yōu)化，要么針對低Ir進(jìn)行優(yōu)化。因此，如果選擇低Vf，則Ir就較高，反之亦然。在實(shí)際應(yīng)用設(shè)計(jì)時，重要的是不僅要觀察Vf或Ir的值，還要分析它們在實(shí)際操作中會產(chǎn)生什么結(jié)果。Vf和Ir都會隨溫度變化而改變。當(dāng)溫度升高，Vf會降低，在肖特基二極管升溫的同時降低了熱擴(kuò)散。但非常不幸的是，Ir會隨著肖特基二極管溫度升高而增加。所以，二極管溫度越高，漏電流就越多，內(nèi)部功耗就越多，這樣就使得肖特基二極管溫度更高，從而再次增加漏電流，如此循環(huán)。

 

　　如果堅(jiān)持采用基本的非同步直流/直流轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)案例，不妨做一個基本分析以確定肖特基二極管內(nèi)部功耗和由此導(dǎo)致的設(shè)備溫度。直流/直流轉(zhuǎn)換器的運(yùn)行占空比與電壓輸入輸出的比值直接相關(guān)（DC=Vout/Vin）。電壓輸入和輸出的比值越低，T2的時間就越長，PT2對整個肖特基二極管的功耗影響也就越大。反之亦然，T1越長（或和的比值越高），PT2對總功耗的影響就越小，PT1的作用就越大。

 

　　熱逃逸



　　以上討論的隨溫度升高而增加的效應(yīng)會帶來一個普遍問題，叫作熱逃逸。升高的溫度會導(dǎo)致溫度進(jìn)一步升高，直到部件損壞。因此，強(qiáng)烈建議在所有設(shè)計(jì)中徹底檢查此現(xiàn)象。

 

　　目前常見的做法是對功耗設(shè)計(jì)進(jìn)行模擬運(yùn)行。可以使用標(biāo)準(zhǔn)的模擬工具，也可使用網(wǎng)上常用的模擬工具。仔細(xì)檢查熱效應(yīng)是非常必要的。對于打算使用的肖特基二極管，極有可能所使用的工具并未采用正確的熱模型，或者其熱參數(shù)（很可能和布局相關(guān)）與設(shè)計(jì)不相符合。很顯然，并非每個肖特基二極管都一模一樣，因而絕對不贊同在模擬設(shè)計(jì)時使用“相似”的肖特基二極管，然后假定它們的熱效應(yīng)（以及潛在的電效應(yīng)）也相似。雖然并非總是可行，但在此仍然建議始終制作原型并驗(yàn)證其正確效應(yīng)。